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备考2023年湖南专升本的同学，想知道湖南科技大学2023年专升本相关政策有哪些，目前2023年湖南各大院校考试政策暂未发布，但大家可以参考2022年考试大纲，提前做好考试准备。以下是《材料分析与测试技术》专业课程考试相关内容，备考湖南科技大学专升本的同学赶快一起来看看吧~
一、考试的目的与要求
通过材料分析与测试技术的学习，考察其对 X 射线衍射分析技术、透射电子显微分析技术、扫描电子显微分析技术、电子探 针显微分析技术的掌握程度;着重观察其对各种分析技术基本原 理及仪器设备结构的熟练程度，使学生具备常用的材料微观结构 分析技术的所必须的基本理论及方法，具备一定的分析问题的能 力和实验能力。
1. 掌握X 射线衍射分析、透射电子显微分析、扫描电子显微分析、电子探针显微分析的基本理论;
2. 掌握各种分析测试技术仪器的基本结构及工作原理;
3. 掌握常用分析测试技术对试样的要求及试样的制备方法;
4. 具备根据材料的性质等信息确定分析手段的初步能力;
5. 具备对检测结果进行标定和分析解释的初步能力。
二、考试知识点及要求
(一)X 射线衍射分析(35%左右)
1. 考试知识点：
X 射线的物理学基础、X 射线衍射方向、X 射线衍射强度、多晶体分析方法、物相分析
2. 考试要求：
(1) 识记：X 射线的本质;连续X 射线谱和特征X 射线谱
的概念及产生机理;X 射线与物质的相互作用;布拉格方程的形式及各参数的意义;干涉面、干涉指数的概念;晶面指数与干涉 指数的关系;倒易点阵的性质;简单点阵、体心点阵、面心点阵 三种点阵的消光规律;X 射线物相分析中定性分析的基本原理及基本步骤。
(2) 理解：布拉格方程的推导及应用;结构因数的物理意义及计算;晶体衍射花样的特点; X 射线衍射仪法;定量分析的原理及分析方法
(3) 应用：利用布拉格方程求晶面的衍射角;立方点阵结构因数的计算;K 值法进行定量分析
(二)透射电子显微分析(30%左右)
1. 考试知识点：
电子光学基础、透射电子显微镜、电子衍射、晶体薄膜衍衬 成像分析
2. 考试要求：
(1) 识记：电磁透镜像差及产生的原因;电磁透镜分辨率的影响因素;电磁透镜的景深和焦长的概念;电磁透镜的景深大 、焦长长的原因;透射电子显微镜的主要组成部分及作用;透镜 中主要光阑的位置及作用;电子衍射与 X 射线衍射的异同;电子衍射的基本公式;电子衍衬成像的概念;薄膜试样的制备步骤; 明场像、暗场像、中心暗场像的概念及成像时电子束及物镜光阑 的位置。
(2) 理解：透射电镜的成像原理倒易点阵;爱瓦尔德图解; 晶带定理;单晶电子衍射花样的标定方法。
(3) 应用：利用尝试校核法对已知晶体结构衍射花样进行标
定。
(三)扫描电子显微分析技术(20%左右)
1. 考试知识点：
电子束与固体样品的相互作用、扫描电子显微镜的构造和工作原理、扫描电子显微镜的主要功能、表面形貌衬度原理及应用、 原子系数衬度原理及应用。
2. 考试要求：
(1)识记：二次电子、被散射电子、特征X 射线、俄歇电子的概念及特点;扫描电镜的工作原理;扫描电镜光学系统的结 构;扫描电镜的主要性能指标;二次电子信号的特点;背散射电 子信号的特点;影响扫描电镜分辨率的因素。
(2)理解：二次电子形貌衬度像的原理及应用、背散射电 子衬度像的原理及应用。
(3)应用：根据样品需要选择合适的信号进行微观结构分析。
(四)电子探针显微分析(15%左右)
1. 考试知识点：
电子探针的结构与工作原理、电子探针的分析方法及应用
2. 考试要求：
(1) 识记：电子探针的工作原理、电子探针的三种工作方式
(2) 理解：波谱仪及能谱仪的工作原理和优缺点、电子探针的分析方法。
(3) 应用：根据样品需要选择波谱分析还是能谱分析。
三、试卷结构及主要题型
(一)试卷结构
基本题 70%左右，综合题 20%左右，提高题 10%左右。
(二)主要题型
主要题型有四大题型，可根据具体情况作调整，单项选择题30% 左右，填空题 25%左右，简答题 30% 左右，计算题 15%左右。
四、考试方式
采用闭卷考试形式，出一套试题，并附标准答案。
五、试题数量及时间安排
试卷应涵盖教学大纲规定内容的 90%以上，考试时间 120 分钟。
六、使用教材及主要参考书
(一)使用教材
《材料分析方法》(第 3 版)周玉主编，机械工业出版社
(二)主要参考书
《材料近代分析测试方法》(修订版) 常铁军，刘喜军主编， 哈尔滨工业大学出版社
以上资料来自小编个人整理汇总，仅供同学们参考，具体参考书目和考试大纲以院校最新公布信息为准!希望同学们在新的一年中好好复习，突破自我，专升本成功~2023年湖南专升本的同学，如果有专升本相关疑惑或者需要学习上的帮助，可以在文末留下你的联系方式，我们将竭尽为你服务~
